預矽片階段處理器功率側頻道洩漏分析框架：SPARC
為何重要
側頻道洩漏（側頻道攻擊）是硬體安全的重要威脅，將根因分析流程自動化化可讓工程師在晶片流片前修復安全漏洞，避免日後的成本與效能問題。這呈現了 EDA 工具正從單純的功能驗證轉向整合性的安全設計流程。未來晶片設計若無法在預矽片階段有效識別並防止側頻道攻擊跡象，可能會影響高安全等級應用（如金融、加密）的採用。
德國勞赫貝格大學的研究團隊提出了 SPARC 框架，作為一種自動化工具，用於在處理器設計流程中進行預矽片階段的功率側頻道洩漏評估與根因分析。
- 該框架採用 macro-cell-level Information Flow Tracking (IFT) 技術，並利用增強的 shadow logic 來標記源自秘密資料相依性的切換活動。
- 系統透過隔離這些活動並應用統計洩漏測試，能將偵測到的功率洩漏歸因至特定的硬體訊號，並進一步對應至相關的軟體指令。
- 研究成果將發表於 2026 年 11 月於美國舊金山舉辦的 IEEE/ACM 國際電腦輔助設計會議 (ICCAD '26)，技術論文代號為 arXiv:2607.23218v1。