靜默資料錯誤重寫測試覆蓋率與維護策略
為何重要
對於建置海量 AI 訓練基礎設施的雲端巨頭與晶片設計商而言，SDE 定義了「已知良晶」的新標準，迫使產業從傳統出貨前檢測轉向系統級壓力測試、現場 Fleet 監控與冗餘計算，這直接改變了資料中心的營運成本結構與晶圓廠的良率管理目標。
晶片可能通過 ATPG、結構性甚至速度測試，卻仍產生導致最終輸出錯誤的隱匿缺陷，這些嚴重影響 AI 訓練等長時間運作的資料中心營運。隨著製程進展與設計複雜度提高，現有的測試策略若不更新，將難以應對日益頻繁的靜默資料錯誤 (SDE)。